常見(jiàn)測試探針的種類(lèi)和特性

測試針，用于測試線(xiàn)路板的一種常見(jiàn)的探針，表面鍍金，內部有平均壽命3-10萬(wàn)次的琴鋼線(xiàn)制作成的高性能彈簧，根據電子測試的用途可分為三種：

1、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開(kāi)路、短路檢測探針，國內大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；

2、在線(xiàn)測試探針：PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；　

3、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內生產(chǎn)廠(chǎng)商積極參與研發(fā)，有部分產(chǎn)品成功生產(chǎn)，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品。

探針主要類(lèi)型：懸臂探針和垂直探針?！　?/span>

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針?。↖CT series Probes)　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內的標準稱(chēng)呼：100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線(xiàn)電路測試和功能測試．也稱(chēng)ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針。

2.界面探針(Interface Probes)　　非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶(hù)定做的，例如泰瑞達和安捷倫。用于測試機臺與測試夾具的接觸點(diǎn)和面。

3.（MicroSeries Probes)　　兩個(gè)測試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes)　　開(kāi)關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流。

5.高頻探針（Coaxial Probes)　　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以?xún)鹊暮?00MHz不帶屏蔽圈的。

6.旋轉探針（Rotator Probes)　　彈力一般不高，因為其穿透性本來(lái)就很強，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測試。

7.高電流探針（High Current Probes)　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps?！　?/span>

8.半導體探針 (Semiconductor Probes)　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。

9.電池探針 (Battery Contacts)　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩定性好和壽命長(cháng)。